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鍛件與鑄件如何進(jìn)行聲波探?

返回列表 來源:濟(jì)南泉西重型鍛造機(jī)械有限公司 網(wǎng)址:www.sanaray.com 發(fā)布日期 2020-03-11 瀏覽: 0

鍛件與鑄件如何進(jìn)行聲波探?
  大型鑄鍛件在機(jī)床制造、汽車制造業(yè)、船舶、電站、兵器工業(yè)、鋼鐵制造等領(lǐng)域具有的作用,作為的部件,其具有大的體積與重量,其工藝與加工比較復(fù)雜。通常采用的工藝熔煉后鑄錠,進(jìn)行鍛造或重新熔化澆注成型,通過高頻加熱機(jī)獲得要求的形狀尺寸與要求,來其服役條件的需要。由于其加工工藝特點(diǎn),對鑄鍛件的聲波探也有的應(yīng)用。 鍛件聲波探 1.鍛件加工及常見缺陷 鍛件是由熱態(tài)鋼錠經(jīng)鍛壓變形而成。鍛壓過程包括加熱、形變和冷卻。鍛件缺陷可分為鑄造缺陷、鍛造缺陷和熱處理缺陷。鑄造缺陷主要有:縮孔殘余、疏松、夾雜、裂紋等。鍛造缺陷主要有:折疊、白點(diǎn)、裂紋等。熱處理缺陷主要是裂紋。 縮孔殘余是鑄錠中的縮孔在鍛造時切頭量不足殘留下來的,多見于鍛件的端部。軸類鍛件
軸類鍛件
疏松是鋼錠在凝固收縮時形成的不致密和孔穴,鍛造時因鍛造比不足而未全溶合,主要存在于鋼錠中心及頭部。 夾雜有內(nèi)在夾雜、外來非金屬夾雜和金屬夾雜。內(nèi)在夾雜主要集中于鋼錠中心及頭部。 裂紋有鑄造裂紋、鍛造裂紋和熱處理裂紋等。奧氏體鋼軸心晶間裂紋就是鑄造引起的裂紋。鍛造和熱處理不當(dāng),會在鍛件表面或心部形成裂紋。 白點(diǎn)是鍛件含氫量較高,鍛后冷卻過快,鋼中溶解的氫來不及逸出,造成應(yīng)力過大引起的開裂。白點(diǎn)主要集中于鍛件大截面中心。白點(diǎn)在鋼中總是成群出現(xiàn)。 2.探方法概述 按探時間分類,鍛件探可分為原材料探和制造過程中的探,產(chǎn)品檢驗(yàn)及在役檢驗(yàn)。 原材料探和制造過程中探的目的是及早發(fā)現(xiàn)缺陷,以便及時采取措施缺陷發(fā)展擴(kuò)大造成報廢。產(chǎn)品檢驗(yàn)的目的是產(chǎn)品質(zhì)量。在役檢驗(yàn)的目的是監(jiān)督運(yùn)行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷,主要是疲勞裂紋。 ??a.軸類鍛件的探?? 軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長為主,因而大部分缺陷的取向與軸線平行,此類缺陷的探測以縱波直探頭從徑向探測佳??紤]到缺陷會有其它的分布及取向,因此軸類鍛件探,還應(yīng)輔以直探頭軸向探測和斜探頭周向探測及軸向探測。 ??b.餅類、碗類鍛件的探?? 餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主,缺陷的分布主要平行于端面,所以用直探頭在端面探測是檢出缺陷的佳方法。軸類鍛件廠家
軸類鍛件廠家
??c.筒類鍛件的探?? 筒類鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷的取向復(fù)雜。但由于鑄錠中質(zhì)量差的中心部分已被沖孔時,因而筒類鍛件的質(zhì)量1般較好。其缺陷的主要取向仍與筒體外圓表面平行,所以筒類鍛件的探仍以直探頭外圓面探測為主,但對于壁較厚的筒類鍛件,須加用斜探頭探測。 3.探測條件的選擇 探頭的選擇:鍛件聲波探時,主要使用縱波直探頭,晶片尺寸為Φ14~Φ28mm,常用Φ20mm。對于較小的鍛件,考慮近場區(qū)和耦合損耗原因,1般采用小晶片探頭。有時為了探測與探測面成傾角的缺陷,也可采用K值的斜探頭進(jìn)行探測。對于近距離缺陷,由于直探頭的盲區(qū)和近場區(qū)的影響,常采用雙晶直探頭探測。 鍛件的晶粒1般比較細(xì)小,因此可選用較高的探頻率,常用2.5~5.0MHz。對于少數(shù)材質(zhì)晶粒粗大衰減嚴(yán)重的鍛件,為了出現(xiàn)“林狀回波”,信噪比,應(yīng)選用較低的頻率,1般為1.0~2.5MHz。 鑄件聲波探 由于鑄件晶粒粗大、透聲性差,信噪比低,所以探困難大,它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件的傳播中,碰到表面或缺陷時產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù),因此可以應(yīng)用缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的。聲檢測作為1種應(yīng)用比較的檢測手段,其主要表現(xiàn)在:檢測敏度高,可以探測細(xì)小的裂紋;具有大的穿透能力,可以探測厚截面鑄件。 其主要局限性在于:對于輪廓尺寸復(fù)雜和指向性不好的斷開性缺陷的反射波形解釋困難;對于不合意的結(jié)構(gòu),例如晶粒大小、組織結(jié)構(gòu)、多孔性、夾雜含量或細(xì)小的分散析出物等,同樣妨礙波形解釋;另外,檢測時需要參考標(biāo)準(zhǔn)試塊。
 

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